电容寿命检测方法、装置及终端设备发明专利

专利名称：电容寿命检测方法、装置及终端设备

专利类型：发明专利

专利申请号：CN202110849903.7

专利申请（专利权）人：科华数据股份有限公司,漳州科华电气技术有限公司
权利人地址：福建省厦门市火炬高新区火炬园马垄路457号

专利发明（设计）人：吴庆彬,上官昌焜,杨燕芬

专利摘要：本发明提供了一种电容寿命检测方法、装置及终端设备，该方法包括：获取目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息、待检测电容在目标检测时段的主路电流值和邻近支路电流值，并基于所述控制信息对所述主路电流值进行优化，基于优化后的主路电流值以及所述邻近支路电流值确定待检测电容在目标检测时段的电流值；获取待检测电容在目标检测时段的电压值，并基于所述控制信息对所述电压值进行优化；根据优化后的电压值、电流值确定待检测电容在目标检测时段的电容值，基于所述电容值确定待检测电容的寿命。本发明提供的电容寿命检测方法、装置及终端设备能够在不增加额外硬件的前提下实现电容寿命检测，检测成本更低。

主权利要求：
1.一种电容寿命检测方法，其特征在于，包括：
获取目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息、待检测电容在目标检测时段的主路电流值和邻近支路电流值，并基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对所述主路电流值进行优化，基于优化后的主路电流值以及所述邻近支路电流值确定待检测电容在目标检测时段的电流值；其中，所述主路电流值为所述待检测电容对应主路的电流值，所述邻近支路电流值为与所述待检测电容所在支路相邻的各条支路的电流总值，所述目标电路为所述待检测电容所在的整个电路，包含待检测电容对应主路、待检测电容所在支路、待检测电容对应的邻近支路；
获取待检测电容在目标检测时段的电压值，并基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化；
根据优化后的待检测电容在目标检测时段的电压值、待检测电容在目标检测时段的电流值确定待检测电容在目标检测时段的电容值，基于待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命；
其中，若目标电路为开关电路且所述待检测电容对应主路包含电感，所述控制信息为目标电路对应的开关占空比，则基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对所述主路电流值进行优化，包括：获取目标检测时段内所述电感的电感电流；
基于目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比的差值、以及所述电感电流对所述主路电流值进行优化；
相应的，所述基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化，包括：基于目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比的差值对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化。
2.如权利要求1所述的电容寿命检测方法，其特征在于，根据下式对所述主路电流值进行优化：其中，i主(t)为优化前的主路电流值，i'主(t)为优化后的主路电流值，PWM0、PWMload分别为目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比，iL(t)为目标检测时段内所述电感的电感电流；
相应的，根据下式对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化：
其中，u(t)为优化前的电压值，u'(t)为优化后的电压值，PWM0、PWMload分别为目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比。
3.如权利要求1所述的电容寿命检测方法，其特征在于，所述基于待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命，包括：获取待检测电容的运行标识量；
若所述运行标识量为第一标识量，则基于待检测电容在目标检测时段的电容值、以及预设的理论电容值确定待检测电容的寿命；
若所述运行标识量为第二标识量，则获取待检测电容的预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率，并基于所述预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率、待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命；
其中，所述第一标识量表示待检测电容的工作电压和环境温度在预设时段内的变化幅度小于预设值，所述第二标识量表示待检测电容的工作电压和/或环境温度在预设时段内的变化幅度不小于预设值。
4.如权利要求3所述的电容寿命检测方法，其特征在于，所述基于待检测电容在目标检测时段的电容值、以及预设的理论电容值确定待检测电容的寿命，包括：计算待检测电容在目标检测时段的电容值的平均值，并根据所述平均值与预设的理论电容值的比值确定待检测电容的寿命。
5.如权利要求3所述的电容寿命检测方法，其特征在于，所述基于所述预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率、待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命，包括：获取待检测电容的型号，并基于所述型号确定目标寿命预测模型；
将所述预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率输入至目标寿命预测模型中，得到待检测电容的寿命损耗率；
基于待检测电容的寿命损耗率、以及待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命。
6.如权利要求5所述的电容寿命检测方法，其特征在于，所述基于所述型号确定目标寿命预测模型，包括：获取第一寿命预测模型；其中所述第一寿命预测模型为基于同类型电容的训练数据训练得到的寿命预测模型，所述同类型电容为与所述待检测电容类型相同的电容，所述训练数据包括环境温度值、工作电压值、电压纹波频率值、以及寿命损耗率；
获取待检测电容对应的训练数据，其中待检测电容对应的训练数据为与所述待检测电容型号相同的电容的训练数据；
基于待检测电容对应的训练数据对所述第一寿命预测模型中的权重系数进行更新，得到目标寿命预测模型。
7.一种电容寿命检测装置，其特征在于，包括：
电流值确定模块，用于获取目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息、待检测电容在目标检测时段的主路电流值和邻近支路电流值，并基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对所述主路电流值进行优化，基于优化后的主路电流值以及所述邻近支路电流值确定待检测电容在目标检测时段的电流值；其中，所述主路电流值为所述待检测电容对应主路的电流值，所述邻近支路电流值为与所述待检测电容所在支路相邻的各条支路的电流总值，所述目标电路为所述待检测电容所在的整个电路，包含待检测电容对应主路、待检测电容所在支路、待检测电容对应的邻近支路；
电压值确定模块，用于获取待检测电容在目标检测时段的电压值，并基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化；
电容寿命检测模块，用于根据优化后的待检测电容在目标检测时段的电压值、待检测电容在目标检测时段的电流值确定待检测电容在目标检测时段的电容值，基于待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命；
其中，若目标电路为开关电路且所述待检测电容对应主路包含电感，所述控制信息为目标电路对应的开关占空比，则所述电流值确定模块具体用于：获取目标检测时段内所述电感的电感电流；基于目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比的差值、以及所述电感电流对所述主路电流值进行优化；
相应的，所述电压值确定模块具体用于：基于目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比的差值对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化。
8.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述方法的步骤。 说明书 : 电容寿命检测方法、装置及终端设备技术领域[0001] 本发明属于电容监测技术领域，更具体地说，是涉及一种电容寿命检测方法、装置及终端设备。背景技术[0002] 在开关电源设备中，电容属于易损器件，母线电容失效会导致电源系统发生重大事故。因此，准确获知母线电容寿命，及时对其维护更换，即可尽可能的避免损失。[0003] 目前，通常采用的检测电容寿命的方法为：在电容的容芯内设置热敏电阻，通过热敏电阻测得的电容温升来预测电容寿命，或组建电容寿命测试系统来预测电容寿命。[0004] 上述两种方法均需要增加额外的器件来实现电容的寿命检测，成本较高，因此亟需一种成本低的电容寿命检测方案。发明内容[0005] 本发明的目的在于提供一种电容寿命检测方法、装置及终端设备，以在不增加额外器件的前提下实现电容的寿命检测。[0006] 本发明实施例的第一方面，提供了一种电容寿命检测方法，包括：[0007] 获取目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息、待检测电容在目标检测时段的主路电流值和邻近支路电流值，并基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对所述主路电流值进行优化，基于优化后的主路电流值以及所述邻近支路电流值确定待检测电容在目标检测时段的电流值；其中，所述主路电流值为所述待检测电容对应主路的电流值，所述邻近支路电流值为与所述待检测电容所在支路相邻的各条支路的电流总值，所述目标电路为所述待检测电容所在的整个电路，包含待检测电容对应主路、待检测电容所在支路、待检测电容对应的邻近支路；[0008] 获取待检测电容在目标检测时段的电压值，并基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化；[0009] 根据优化后的待检测电容在目标检测时段的电压值、待检测电容在目标检测时段的电流值确定待检测电容在目标检测时段的电容值，基于待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命。[0010] 本发明实施例的第二方面，提供了一种电容寿命检测装置，包括：[0011] 电流值确定模块，用于获取目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息、待检测电容在目标检测时段的主路电流值和邻近支路电流值，并基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对所述主路电流值进行优化，基于优化后的主路电流值以及所述邻近支路电流值确定待检测电容在目标检测时段的电流值；其中，所述主路电流值为所述待检测电容对应主路的电流值，所述邻近支路电流值为与所述待检测电容所在支路相邻的各条支路的电流总值，所述目标电路为所述待检测电容所在的整个电路，包含待检测电容对应主路、待检测电容所在支路、待检测电容对应的邻近支路；[0012] 电压值确定模块，用于获取待检测电容在目标检测时段的电压值，并基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化；[0013] 电容寿命检测模块，用于根据优化后的待检测电容在目标检测时段的电压值、待检测电容在目标检测时段的电流值确定待检测电容在目标检测时段的电容值，基于待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命。[0014] 本发明实施例的第三方面，提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的电容寿命检测方法的步骤。[0015] 本发明实施例的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的电容寿命检测方法的步骤。[0016] 本发明实施例提供的电容寿命检测方法、装置及终端设备的有益效果在于：[0017] 区别于现有技术中增加额外器件进行电容寿命检测的方法，本发明无需增加额外的器件，可直接基于现有的电路参数确定待检测电容的电流值，基于待检测电容的电压值以及电流值确定待检测电容的当前电容容量，进而确定待检测电容的寿命。相对于现有技术，本发明提供的电容寿命检测方法、装置及终端设备的成本更低，且可以有效避免额外增加器件对待检测电容的寿命的影响，进而实现电容寿命的准确测量。此外，本发明还考虑到了负载大小对电容检测精度的影响，还利用目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对主路电流值和电压值进行了优化，因此有效降低了负载对电容检测的影响，进一步提高了电容寿命的检测精度。附图说明[0018] 为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。[0019] 图1为本发明一实施例提供的电容寿命检测方法的流程示意图；[0020] 图2为本发明一实施例提供的电容寿命检测装置的结构框图；[0021] 图3为本发明一实施例提供的终端设备的示意框图。具体实施方式[0022] 为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。[0023] 请参考图1，图1为本发明一实施例提供的电容寿命检测方法的流程示意图，该方法包括：[0024] S101：获取目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息、待检测电容在目标检测时段的主路电流值和邻近支路电流值，并基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对主路电流值进行优化，基于优化后的主路电流值以及邻近支路电流值确定待检测电容在目标检测时段的电流值。其中，主路电流值为待检测电容对应主路的电流值，邻近支路电流值为与待检测电容所在支路相邻的各条支路的电流总值，目标电路为待检测电容所在的整个电路，包含待检测电容对应主路、待检测电容所在支路、待检测电容对应的邻近支路。[0025] 在本实施例中，考虑到电容所在的应用电路通常为谐振电路，而在谐振电路中，电感的感量会受到负载的影响，目标电容的控制信息也会随着负载的大小而改变，进而影响电感电流、电容电压等一系列参数，因此，为了尽可能地降低负载的影响，本实施例基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对主路电流值进行了优化，以提高电容寿命的检测准确性。[0026] 在本实施例中，以LC滤波电路为例对主路电流值和邻近支路电流值进行说明：LC滤波电路中包含待检测电容、电感、负载，其中，电容和负载并联，电容和负载并联形成的并联结构与电感串联，此时，主路电流值即电感电流值，邻近支路电流值即流过负载的电流值。[0027] 在本实施例中，目标检测时段可以根据需要进行预先设置。可选的，目标检测时段的时长大于待检测电容的充放电周期。[0028] 在本实施例中，主路电流值和邻近支路电流值对应的采样频率可以根据需求确定。可选的，主路电流值和邻近支路电流值对应的采样频率不小于待检测电容所在电路的开关频率的两倍。[0029] 在一种可能的实现方式中，确定待检测电容在目标检测时段的电流值的方法为：将优化后的主路电流值与邻近支路电流值之差作为待检测电容在目标检测时段的电流值。[0030] 在上述LC滤波电路的示例中，待检测电容在目标检测时段的电流值也即优化后的电感电流值减流过负载的电流值。[0031] S102：获取待检测电容在目标检测时段的电压值，并基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化。[0032] 如上所描述的，考虑到负载大小会影响电容电压，本实施例还对电压值进行优化以保证电容寿命的检测准确度。[0033] S103：根据优化后的待检测电容在目标检测时段的电压值、待检测电容在目标检测时段的电流值确定待检测电容在目标检测时段的电容值，基于待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命。[0034] 在本实施例中，电压值对应的采样频率不小于待检测电容所在电路的开关频率的两倍。[0035] 在本实施例中，确定待检测电容在目标检测时段的电容值的方法为：[0036][0037] 其中，C为待检测电容的电容值，ic(t)为待检测电容在目标检测时段的电流值，u'(t)为优化后的待检测电容在目标检测时段的电压值，t为目标检测时段内的某一时刻点。[0038] 在本实施例中，待检测电容在目标检测时段的电容值也即待检测电容当前的电容容量，因此可基于待检测电容当前的电容容量确定待检测电容的寿命。[0039] 由上可以得出，区别于现有技术中增加额外器件进行电容寿命检测的方法，本发明无需增加额外的器件，可直接基于现有的电路参数确定待检测电容的电流值，基于待检测电容的电压值以及电流值确定待检测电容的当前电容容量，进而确定待检测电容的寿命。相对于现有技术，本发明提供的电容寿命检测方法、装置及终端设备的成本更低，且可以有效避免额外增加器件对待检测电容的寿命的影响，进而实现电容寿命的准确测量。此外，本发明实施例还考虑到了负载大小对电容检测精度的影响，还利用目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对主路电流值和电压值进行了优化，因此有效降低了负载对电容检测的影响，进一步提高了电容寿命的检测精度。[0040] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测方法的一种具体实施方式，若目标电路为开关电路且待检测电容对应主路包含电感，控制信息为目标电路对应的开关占空比，则基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对所述主路电流值进行优化，包括：[0041] 获取目标检测时段内所述电感的电感电流，基于目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比的差值、以及所述电感电流对所述主路电流值进行优化。[0042] 具体的，可根据下式对所述主路电流值进行优化：[0043][0044] 其中，i主(t)为优化前的主路电流值，i'主(t)为优化后的主路电流值，PWM0、PWMload分别为目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比，iL(t)为目标检测时段内所述电感的电感电流。[0045] 相应的，基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化，包括：[0046] 基于目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比的差值对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化。[0047] 具体的，可根据下式对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化：[0048][0049] 其中，u(t)为优化前的电压值，u'(t)为优化后的电压值，PWM0、PWMload分别为目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比。[0050] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测方法的一种具体实施方式，基于待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命，包括：[0051] 获取待检测电容的运行标识量。[0052] 若运行标识量为第一标识量，则基于待检测电容在目标检测时段的电容值、以及预设的理论电容值确定待检测电容的寿命。[0053] 若运行标识量为第二标识量，则获取待检测电容的预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率，并基于预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率、待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命。[0054] 在本实施例中，待检测电容的运行标识量用于标识待检测电容在将来的一段时间内(也即预设时段内)的运行状态。第一标识量表示待检测电容的工作电压和环境温度在预设时段内的变化幅度小于预设值，第二标识量表示待检测电容的工作电压和/或环境温度在预设时段内的变化幅度不小于预设值。[0055] 若运行标识量为第一标识量，则说明待检测电容的运行状态与目标检测时段内的运行状态相差不大，则可直接基于目标检测时段内待检测电容的寿命损耗情况确定待检测电容的寿命，也即待检测电容在目标检测时段的电容值、以及预设的理论电容值确定待检测电容的寿命。[0056] 若运行标识量为第二标识量，则说明待检测电容的运行状态与目标检测时段内的运行状态相差较大，此时根据目标检测时段内待检测电容的寿命损耗预测待检测电容的寿命不再准确，因此需要根据待检测电容的实时参数进行寿命预测，也即获取待检测电容的预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率，并基于预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率、待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命。其中，预计环境温度值表示的是待检测电容在将来工作环境中的预测温度值、预计工作电压值表示的是待检测电容在将来工作时的设定电压值，其他参数以此类推，此处不再赘述。[0057] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测方法的一种具体实施方式，基于待检测电容在目标检测时段的电容值、以及预设的理论电容值确定待检测电容的寿命，包括：[0058] 计算待检测电容在目标检测时段的电容值的平均值，并根据平均值与预设的理论电容值的比值确定待检测电容的寿命。[0059] 在本实施例中，根据平均值与预设的理论电容值的比值确定待检测电容的寿命可以详述为：获取待检测电容的理论寿命，基于理论寿命、平均值与预设的理论电容值的比值即可确定已使用寿命，进而可以得到待检测电容的剩余寿命。[0060] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测方法的一种具体实施方式，基于预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率、待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命，包括：[0061] 获取待检测电容的型号，并基于型号确定目标寿命预测模型。[0062] 将预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率输入至目标寿命预测模型中，得到待检测电容的寿命损耗率。[0063] 基于待检测电容的寿命损耗率、待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命。[0064] 在本实施例中，每种型号的电容都对应一个寿命检测模型，因此可根据待检测电容的型号确定目标寿命预测模型。[0065] 在本实施例中，目标寿命预测模型的输入为：预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率输出，目标寿命预测模型的输出为：寿命损耗率。其中，某电容的寿命损耗率为该电容在某一固定时段内的电容容量的损耗率，其中，该固定时段可以根据需要设定。[0066] 在本实施例中，可待检测电容的寿命损耗率、待检测电容在目标检测时段的电容值、以及固定时段的时长大小确定待检测电容的寿命。[0067] 例如，待检测电容的寿命损耗率为a％，固定时段的时长大小为t，待检测电容的理论电容值为C0，在目标检测时段的电容值为C1(其中，C1可以为待检测电容在目标检测时段的电容值的平均值，也可以为待检测电容在目标检测时段结束时刻的电容值)，电容容值为C2时电容寿命终止，则待检测电容的剩余寿命可以表示为[0068] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测方法的一种具体实施方式，基于型号确定目标寿命预测模型，包括：[0069] 获取第一寿命预测模型。其中第一寿命预测模型为基于同类型电容的训练数据训练得到的寿命预测模型，同类型电容为与待检测电容类型相同的电容，训练数据包括环境温度值、工作电压值、电压纹波频率值、以及寿命损耗率。[0070] 获取待检测电容对应的训练数据，其中待检测电容对应的训练数据为与待检测电容型号相同的电容的训练数据。[0071] 基于待检测电容对应的训练数据对第一寿命预测模型中的权重系数进行更新，得到目标寿命预测模型。[0072] 在本实施例中，考虑到同类型电容的寿命损耗的相似性，可预先训练得到第一寿命预测模型，在建立目标寿命预测模型时，直接将第一寿命预测模型的权重系数作为目标寿命预测模型训练的初始参数，而无需随机初始化目标寿命预测模型的初始参数。此种方法可大大减少各型号电容对应的寿命预测模型的训练时间，在待检测电容的数量较多、待检测电容的型号较多时，有效提高电容寿命的检测效率。[0073] 对应于上文实施例的电容寿命检测方法，图2为本发明一实施例提供的电容寿命检测装置的结构框图。为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。参考图2，该电容寿命检测装置20包括：电流值确定模块21、电压值确定模块22、电容寿命检测模块23。[0074] 其中，电流值确定模块21，用于获取目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息、待检测电容在目标检测时段的主路电流值和邻近支路电流值，并基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对主路电流值进行优化，基于优化后的主路电流值以及邻近支路电流值确定待检测电容在目标检测时段的电流值。其中，主路电流值为待检测电容对应主路的电流值，邻近支路电流值为与待检测电容所在支路相邻的各条支路的电流总值，目标电路为待检测电容所在的整个电路，包含待检测电容对应主路、待检测电容所在支路、待检测电容对应的邻近支路。[0075] 电压值确定模块22，用于获取待检测电容在目标检测时段的电压值，并基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化。[0076] 电容寿命检测模块23，用于根据优化后的待检测电容在目标检测时段的电压值、待检测电容在目标检测时段的电流值确定待检测电容在目标检测时段的电容值，基于待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命。[0077] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测装置的一种具体实施方式，若目标电路为开关电路且待检测电容对应主路包含电感，控制信息为目标电路对应的开关占空比，则基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对主路电流值进行优化，包括：[0078] 获取目标检测时段内电感的电感电流。[0079] 基于目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比的差值、以及电感电流对主路电流值进行优化。[0080] 相应的，基于目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化，包括：[0081] 基于目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比的差值对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化。[0082] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测装置的一种具体实施方式，根据下式对主路电流值进行优化：[0083][0084] 其中，i主(t)为优化前的主路电流值，i'主(t)为优化后的主路电流值，PWM0、PWMload分别为目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比，iL(t)为目标检测时段内电感的电感电流。[0085] 相应的，根据下式对待检测电容在目标检测时段的电压值进行优化：[0086][0087] 其中，u(t)为优化前的电压值，u'(t)为优化后的电压值，PWM0、PWMload分别为目标电路在空载状态和带载状态下对应的开关占空比。[0088] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测装置的一种具体实施方式，基于主路电流值以及邻近支路电流值确定待检测电容在目标检测时段的电流值，包括：[0089] 将主路电流值与邻近支路电流值之差作为待检测电容在目标检测时段的电流值。[0090] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测装置的一种具体实施方式，根据电压值和电流值确定待检测电容在目标检测时段的电容值，包括：[0091][0092] 其中，C为待检测电容的电容值，ic(t)为待检测电容在目标检测时段的电流值，u'(t)为优化后的待检测电容在目标检测时段的电压值，t为目标检测时段内的某一时刻点。[0093] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测装置的一种具体实施方式，基于待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命，包括：[0094] 获取待检测电容的运行标识量。[0095] 若运行标识量为第一标识量，则基于待检测电容在目标检测时段的电容值、以及预设的理论电容值确定待检测电容的寿命。[0096] 若运行标识量为第二标识量，则获取待检测电容的预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率，并基于预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率、待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命。[0097] 其中，第一标识量表示待检测电容的工作电压和环境温度在预设时段内的变化幅度小于预设值，第二标识量表示待检测电容的工作电压和/或环境温度在预设时段内的变化幅度不小于预设值。[0098] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测装置的一种具体实施方式，基于待检测电容在目标检测时段的电容值、以及预设的理论电容值确定待检测电容的寿命，包括：[0099] 计算待检测电容在目标检测时段的电容值的平均值，并根据平均值与预设的理论电容值的比值确定待检测电容的寿命。[0100] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测装置的一种具体实施方式，基于预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率、待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命，包括：[0101] 获取待检测电容的型号，并基于型号确定目标寿命预测模型。[0102] 将预计环境温度值、预计工作电压值、预计电压纹波频率输入至目标寿命预测模型中，得到待检测电容的寿命损耗率。[0103] 基于待检测电容的寿命损耗率、待检测电容在目标检测时段的电容值确定待检测电容的寿命。[0104] 可选地，作为本发明实施例提供的电容寿命检测装置的一种具体实施方式，基于型号确定目标寿命预测模型，包括：[0105] 获取第一寿命预测模型。其中第一寿命预测模型为基于同类型电容的训练数据训练得到的寿命预测模型，同类型电容为与待检测电容类型相同的电容，训练数据包括环境温度值、工作电压值、电压纹波频率值、以及寿命损耗率。[0106] 获取待检测电容对应的训练数据，其中待检测电容对应的训练数据为与待检测电容型号相同的电容的训练数据。[0107] 基于待检测电容对应的训练数据对第一寿命预测模型中的权重系数进行更新，得到目标寿命预测模型。[0108] 参见图3，图3为本发明一实施例提供的终端设备的示意框图。如图3所示的本实施例中的终端300可以包括：一个或多个处理器301、一个或多个输入设备302、一个或多个输出设备303及一个或多个存储器304。上述处理器301、输入设备302、则输出设备303及存储器304通过通信总线305完成相互间的通信。存储器304用于存储计算机程序，计算机程序包括程序指令。处理器301用于执行存储器304存储的程序指令。其中，处理器301被配置用于调用程序指令执行以下操作上述各装置实施例中各模块/单元的功能，例如图2所示模块21至23的功能。[0109] 应当理解，在本发明实施例中，所称处理器301可以是中央处理单元(CentralProcessingUnit，CPU)，该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignalProcessor，DSP)、专用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field‑ProgrammableGateArray，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。[0110] 输入设备302可以包括触控板、指纹采传感器(用于采集用户的指纹信息和指纹的方向信息)、麦克风等，输出设备303可以包括显示器(LCD等)、扬声器等。[0111] 该存储器304可以包括只读存储器和随机存取存储器，并向处理器301提供指令和数据。存储器304的一部分还可以包括非易失性随机存取存储器。例如，存储器304还可以存储设备类型的信息。[0112] 具体实现中，本发明实施例中所描述的处理器301、输入设备302、输出设备303可执行本发明实施例提供的电容寿命检测方法的第一实施例和第二实施例中所描述的实现方式，也可执行本发明实施例所描述的终端的实现方式，在此不再赘述。[0113] 在本发明的另一实施例中提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序包括程序指令，程序指令被处理器执行时实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，计算机程序包括计算机程序代码，计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。计算机可读介质可以包括：能够携带计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read‑OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccessMemory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括是电载波信号和电信信号。[0114] 计算机可读存储介质可以是前述任一实施例的终端的内部存储单元，例如终端的硬盘或内存。计算机可读存储介质也可以是终端的外部存储设备，例如终端上配备的插接式硬盘，智能存储卡(SmartMediaCard,SMC)，安全数字(SecureDigital,SD)卡，闪存卡(FlashCard)等。进一步地，计算机可读存储介质还可以既包括终端的内部存储单元也包括外部存储设备。计算机可读存储介质用于存储计算机程序及终端所需的其他程序和数据。计算机可读存储介质还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。[0115] 本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。[0116] 所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的终端和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。[0117] 在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的终端和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口或单元的间接耦合或通信连接，也可以是电的，机械的或其它的形式连接。[0118] 作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本发明实施例方案的目的。[0119] 另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。[0120] 以上，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

专利地区：福建

专利申请日期：2021-07-27

专利公开日期：2024-07-26

专利公告号：CN113608046B